利用掠入射X射线技术表征高分子薄膜
张吉东, 莫志深
利用掠入射X射线技术表征高分子薄膜
张吉东, 莫志深
大学化学 . 2009, (2): 1 -6 .  DOI: 10.3969/j.issn.1000-8438.2009.02.001