大学化学 >> 2009, Vol. 24 >> Issue (2): 1-6.doi: 10.3969/j.issn.1000-8438.2009.02.001

今日化学    下一篇

利用掠入射X射线技术表征高分子薄膜

张吉东, 莫志深   

  1. 中国科学院长春应用化学研究所高分子物理与化学国家重点实验室, 吉林长春130022
  • 发布日期:2009-03-15

利用掠入射X射线技术表征高分子薄膜

张吉东, 莫志深   

  • Published:2009-03-15

PDF

3311

赞

摘要： 掠入射X射线技术是一种表征高分子薄膜的结晶性、厚度、界面粗糙度等物理量的新方法,本文简单介绍了这种技术中X射线反射率法和掠入射X射线衍射法的基本原理、测试和分析方法以及这些方法在高分子薄膜研究中的应用。