[1] Du, J.; Shi, F.; Kong, X.; Jelezko, F.; Wrachtrup, J. Rev. Mod. Phys. 2024, 96 (2), 25001. [2] Lenef, A.; Rand, S. C. Phys. Rev. B 1996, 53 (20), 13441. [3] 耿建培. 基于固态自旋量子比特的高保真度量子逻辑门的实验研究[博士学位论文]. 合肥: 中国科学技术大学, 2017. [4] Steiner, M.; Neumann, P.; Beck, J.; Jelezko, F.; Wrachtrup, J. Phys. Rev. B 2010, 81 (3), 35205. [5] 靖克, 谢一进, 蓝子桁, 荣星, 杜江峰. 计测技术, 2023, 43 (4), 15. [6] Xie, Y.; Yu, H.; Zhu, Y.; Qin, X.; Rong, X.; Duan, C.-K.; Du, J. Sci. Bull. 2021, 66 (2), 127. [7] Zhu, Y.; Xie, Y.; Jing, K.; Yu, Z.; Yu, H.; Zhang, W.; Qin, X.; Duan, C.-K.; Rong, X.; Du, J. PRX Energy 2022, 1 (3), 33002. [8] Shi, F.; Zhang, Q.; Wang, P.; Sun, H.; Wang, J.; Rong, X.; Chen, M.; Ju, C.; Reinhard, F.; Chen, H.; et al. Science 2015, 347 (6226), 1135. [9] Shi, F.; Kong, F.; Zhao, P.; Zhang, X.; Chen, M.; Chen, S.; Zhang, Q.; Wang, M.; Ye, X.; Wang, Z.; et al. Nat. Methods 2018, 15 (9), 697. [10] Wang, P.; Chen, S.; Guo, M.; Peng, S.; Wang, M.; Chen, M.; Ma, W.; Zhang, R.; Su, J.; Rong, X.; et al. Sci. Adv. 2019, 5 (4), eaau8038. [11] Kopp, S. M.; Nakamura, S.; Phelan, B. T.; Poh, Y. R.; Tyndall, S. B.; Brown, P. J.; Huang, Y.; Yuen-Zhou, J.; Krzyaniak, M. D.; Wasielewski, M. R. J. Am. Chem. Soc. 2024, 146 (40), 27935. [12] Kopp, S. M.; Nakamura, S.; Poh, Y. R.; Peinkofer, K. R.; Phelan, B. T.; Yuen-Zhou, J.; Krzyaniak, M. D.; Wasielewski, M. R. J. Am. Chem. Soc. 2025, 147 (26), 22951. [13] 夏志国. 无机稀土发光新材料与应用. 北京: 化学工业出版社, 2024: 8-11. [14] Kolesov, R.; Xia, K.; Reuter, R.; Jamali, M.; Stöhr, R.; Inal, T.; Siyushev, P.; Wrachtrup, J. Phys. Rev. Lett. 2013, 111 (12), 120502. [15] Siyushev, P.; Xia, K.; Reuter, R.; Jamali, M.; Zhao, N.; Yang, N.; Duan, C.; Kukharchyk, N.; Wieck, A. D.; Kolesov, R.; et al. Nat. Commun. 2014, 5 (1), 3895. [16] Chai, Z.; Wang, Z.; Chen, X.; Shen, Q.; Gao, Z.; Guan, J.; Zhang, H.; Wang, Y.; Tan, Y.; Chen, F.; et al. ACS Photonics 2025, 12 (5), 2515. [17] Bayliss, S. L.; Laorenza, D. W.; Mintun, P. J.; Kovos, B. D.; Freedman, D. E.; Awschalom, D. D. Science 2020, 370 (6522), 1309. [18] Riesen, H.; Krausz, E. J. Chem. Phys. 1992, 97 (11), 7902. |